標(biāo)題：取樣經(jīng)破碎作業(yè)減小顆粒粒度計量顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2017-9-16 22:12:43
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正文:
取樣經(jīng)破碎作業(yè)減小顆粒粒度計量顯微鏡
大宗樣品需要進(jìn)行徹底的干燥、混合、縮分及破碎等步驟，直
到制備出粒度適合化驗的樣品。縮分過程，原則上與上面討論的收
集干礦總樣品的原則相同。為了獲得最佳的化驗結(jié)果，大宗樣品的
備樣要盡可能均一。如果物料達(dá)到了完全均勻，則用這種取樣方法
獲得的每一個小樣都能代表該物料。粗粒級的礦石和精礦不如細(xì)粒
級的均勻，因此，為了使試樣更有代表性，如物料粒度較粗，則需
要多取一些樣。有可能的話，取樣前要經(jīng)過破碎作業(yè)減小顆粒粒度
，破碎的段數(shù)取決于原試樣的粒度及所用碎礦設(shè)備。試樣縮分每個
階段所需的質(zhì)量以及基本偏差均可用吉氏公式來確定。以之前討論
過的鉛礦石為例，樣品取自閉路破碎產(chǎn)品，最大粒度為25mm。
取樣過程中，所取的每一礦樣，都代表著取樣時礦石的性質(zhì)，
取樣后礦樣送至二次取樣系統(tǒng)用自動分樣機(jī)或者手工操作進(jìn)行縮分
和取樣。
假設(shè)礦樣經(jīng)過三段破碎，分別碎至5mm、1 mm，最后研磨至40
μm，每碎一次均進(jìn)行取樣操作。這樣，總共有四次取樣，取樣所
產(chǎn)生的總誤差方差等于每一階段所產(chǎn)生誤差的方差之和。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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