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標(biāo)題:巖相學(xué)圖像分析圖像顯微鏡-表面積測定

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時間:2017-9-19 22:56:40 將本頁加入收藏

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正文:

巖相學(xué)圖像分析圖像顯微鏡-表面積測定

   比表面
    比表面至少可以由3種方法測得:氣體吸附法、巖相學(xué)圖像分
析(PIA)法和核磁共振(NMR)法。氣體吸附方法是測定表面積的基本
方法,它包括測定注入氣體量,如氮氣、氬氣或者氪氣等類型,測
定時需要在低溫條件下在樣品表面形成一個分子厚的氣體薄層,然
后通過已知面積的氣體吸附量計算得到樣品的表面積。在這種條件
下可以考慮每種氣體分子占據(jù)表面的情況。氣體吸附方法廣泛應(yīng)用
測量孔隙介質(zhì)的比表面。但是,它也要求孔隙介質(zhì)不能太大,并
且要求基質(zhì)顆粒光滑、規(guī)則,即:球度小于0.7;圓度大于0.5,


    在具有明顯孔隙幾何形狀端面的結(jié)構(gòu)中,流動區(qū)域指數(shù)(FZI)
是唯一的,可以反映紋理和巖石地質(zhì)性質(zhì)的參數(shù)。通常,巖石除含
有細顆粒外,還有孔隙、孔隙充填物和堵塞黏土。分選很差的砂
巖有很大的表面積和很大的迂曲度,因此腳值低。與此相反,含少
量泥巖、粗糙顆粒和分選好的砂巖具有較低的表面積、低形狀因子
、低迂曲度和高腳值。不同的沉積環(huán)境和退化過程控制了油藏的幾
何尺寸,因此影響流動區(qū)域指數(shù)值。










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