標題：材料的長度、質(zhì)量、鍍膜量和成本分析顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2018-5-17 17:14:18
將本頁加入收藏
下一篇：細胞膜熱力學(xué)溫度的產(chǎn)生-細胞生物顯微鏡
上一篇：遺跡化石分析層面化石材料計量圖像顯微鏡
點擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報價--丨--
---
---
---
正文:
材料的長度、質(zhì)量、鍍膜量和成本分析顯微鏡
非球面的可制造性
非球面有很多優(yōu)點。一個非球面的作用相當于若干球面，可以節(jié)省
所用材料的長度、質(zhì)量、鍍膜量和成本。隨著新的加工及測試技術(shù)的發(fā)
展，非球面的制造成本從曾經(jīng)是球面制造成本的10～20倍．縮減到僅為
球面制造成本的2～4倍。如果采用模塊化開發(fā)，其成本會更低，關(guān)鍵因
素也會隨技術(shù)的發(fā)展而改變。
凸非球面的測試很難用常規(guī)干涉儀來完成，它需要一個比非球面更
大的參考球面。． 可先對凹凸非球面進行。再將子孔徑的測量結(jié)果
合成為一個高分辨率的全口徑圖像．其拼接誤差可通過改進測試設(shè)備來
降低。但有些儀器，如MRF不能拋光半徑較短的凹球面(主要由于研磨凹
型光學(xué)元件需要凸型磨具)。
在所有常規(guī)區(qū)域或者被拼接的干涉圖中，曲率的局部變化必須保持
低于 ．這一限制取決于供應(yīng)商的測試儀器。一個最近引進的稀疏陣
列即亞奈奎斯特干涉儀解決了這個問題。
拼接干涉測量不能很好地檢測彎曲表面(如施密特板)。接觸式
對彎曲不敏感，因為其測量過程是線掃描的。
子孔徑拋光機會產(chǎn)生某種程度的 和紋波，在設(shè)計中必須仔細考
慮這種影響。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/11172.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商