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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2011-11-15 14:33:05
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正文:
請(qǐng)問有關(guān)結(jié)晶非結(jié)晶與材料的孔隙問題(偏光顯微鏡)
請(qǐng)問一些問題:
1.假如懷疑一材料同時(shí)含有結(jié)晶與非結(jié)晶的區(qū)域,我們?cè)撊绾卧^明此假設(shè)呢~!?(用xrd儀器測(cè)試或是做實(shí)驗(yàn)嗎~!??)
2.假如我們懷疑一材料含有很多的大孔隙(voids),我們?cè)撊绾卧^明此假設(shè)呢~!?
對(duì)我來說很重要的問題,
北京上光儀器回答:
1.
a.如果該材料可以制成膜,用偏光顯微鏡就可以分出結(jié)晶與非結(jié)晶了
雖然說偏光顯微鏡也有反射光的方法,能不能與穿透式具有相同作用,筆者不清楚
b.如果是金屬類,我想TEM應(yīng)該會(huì)是最好的選擇,高分子的話也可以,不過制作樣品的手續(xù)比較麻煩就是了
2.a.BET儀應(yīng)該可以
b.SEM也行,但是僅限表面,如果孔隙在裡面,就把他切開吧
c.有位大大提到超音波
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