標題：鑄件的表面光潔度壓鑄樣品分析圖像顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2020-4-21 23:36:27
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正文:
鑄件的表面光潔度壓鑄樣品分析圖像顯微鏡
左動型中的那部分鑄件表面上留有頂桿痕跡。如果買主規(guī)定在成
品鑄件上不允許留有頂桿的痕跡，則需將其鏟除。鏟除桿痕是一項很
花錢的額外工作。為此，在有些場合下，可在鑄件周圍設(shè)置專門的頂
桿凸臺，這些凸臺可在以后汀掉。 、
頂桿面積也應(yīng)足夠大，以免鑄件從動型中頂出時將鑄件局部頂壞
。
如果鑄件的表面光潔度要求很高，則筋條和凸臺會引起很多麻煩
，特別是在薄的斷面上。如果筋條或凸臺位子要求高光潔度表面的背
面一側(cè)時，它們就會造成鑄件表面的凹陷。圖1，5表示在薄壁鑄件上
由背面筋條所引起的凹陷。
現(xiàn)場試驗
可變因素的統(tǒng)計分析在壓鑄廠中的潛力是很大的，這是因為我們
要和大量鑄件、壓鑄機、熔爐以及其它可變因素打交道，但可惜的是
統(tǒng)計學觀點在日常問題中應(yīng)用還不廣泛，在解決現(xiàn)場試驗或在質(zhì)量檢
驗和控制的結(jié)果分析方面迄今還沒有統(tǒng)一的方法，所以對每種情況必
須單獨考慮。然而，通過對典型事例的研究，可以對出現(xiàn)的類似問題
，·得到解決的方法。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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