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正文:

原子力顯微鏡的分類，原子力顯微鏡原理？

‧接觸式 (Contact AFM)
‧非接觸式 (Non-Contact AFM)
‧間歇接觸式 (Intermittent-Contact AFM)

接觸式AFM
在接觸式操作下，探針與樣品問的作用力是原子間的排
斥力，這是最早被發(fā)展出來的操作模式，由于排斥力對
距離非常敏感，所以接觸式AFM較容易得到原子解析
度。在一般的接觸式量測中，探針與樣品問的作用力
很小，約為10-6至10-10N（Newton），但由于接觸面
積極小，因此過大的作用力仍會損壞樣品表面，但較大
的的作用力通常可得到較佳的解析度。

‧在接觸式操作下，探針與樣品問的作用力是原子間的排斥力，這是最早被發(fā)展出來的操作模式，由于
排斥力對距離非常敏感，所以接觸式AFM較容易得到原子解析度。在一般的接觸式量測中，探針與樣
品問的作用力很小，約為10-6至10-10N（Newton），但由于接觸面積極小，因此過大的作用力仍會損壞樣品表面，
但較大的的作用力通常可得到較佳的解析度。
‧選擇適當(dāng)?shù)牡淖饔?#63882;，接觸式的操作模式是十分重要的。接觸式的AFM利用探針和樣品原子間的排斥
力（repulsive force），原子力間的排斥力對距離的變化是非常敏感。是利用具有懸臂的探針接觸
且輕壓表面，由于反作用力使得探針的懸臂產(chǎn)生偏折，而偏折量的大小代表反作用力的大小，所以掃
描表面時利用維持相同的偏折量就可以描繪出3D的表面結(jié)構(gòu)　。

原子間作用力
有幾種典型的力量會造成原子力顯微鏡懸
臂的歪斜，最普遍的是凡得瓦力（van derWaals force），其它還有如electrostatic,
magnetic force, thermal gradients, and
optical intensity, ….

原子間凡得瓦力和距離關(guān)係

恆定－高度或恆定－力量

接觸式原子力顯微鏡

‧接觸式AFM是一個排斥性的模式，探針尖端和樣品之間做柔軟性的「實際接觸」，
當(dāng)探針尖端輕輕的掃過樣品表面時，接觸的力量引起懸臂彎曲，進而得到樣品的表
面圖形。

‧由于是接觸式掃瞄，在掃瞄樣品時可能會使樣品表面變形。
‧經(jīng)過多次掃描后，探針或者樣品有鈍化的現(xiàn)象。

非接觸式原子力顯微鏡
‧需要使用較堅硬的懸臂（以防與樣品接觸）
‧所得到的信號很小，需要更靈敏的裝置
‧由于為非接觸狀態(tài)，
‧對于研究柔軟或有彈性樣品較佳
‧探針不會有鈍化的效應(yīng)
‧誤判的現(xiàn)象

間歇接觸式原子力顯微鏡
‧類似非接觸式AFM
‧比非接觸式更靠近樣品表面
‧探針有時會擊中，或輕打樣品表面
‧損害樣品的可能性比接觸式少（不用側(cè)面力, 摩擦或拖曳）
‧樣品表面起伏較大的大型掃描比非接觸式更有效

出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科