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標(biāo)題:顯微鏡的分類以及使用的范圍?金相介儀器紹

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時(shí)間:2012-11-12 22:34:30 將本頁加入收藏

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正文:

顯微鏡的分類以及使用的范圍?金相分析設(shè)備介紹

明視野顯微鏡需要標(biāo)本需要染色的原因(stained bright-field microscopy)
染色之后加強(qiáng)對比度(contrast),并顯出原本看不見的細(xì)部結(jié)構(gòu),染色劑(stains)的種類繁多,
可以吸附結(jié)合的生物細(xì)胞種類也不同,故每種細(xì)胞有大都有不同的染劑。


相位差顯微鏡(phase-contrast microscopy)
強(qiáng)調(diào)欲觀察物體對所照射的光之折射率不同,對比度隨著折射率增加而增加,
所以顯示出來的影像具有亮區(qū)(light regions)及暗區(qū)(dark regions)。


螢光顯微鏡(fluorescence microscopy)
可使用天然物質(zhì)或螢光染劑,將他們與特定細(xì)胞物質(zhì)結(jié)合后,再照射光束,
之后會放出較原波長為長的螢光(fluorescence),即可觀察。


微分干涉顯微鏡(differential interference-contrast microscopy)

使用兩道偏極光束(beams of polarized light),將兩個(gè)影像結(jié)合后會有陰影(shadow)在某一個(gè)方向。


掃描式電子顯微鏡(scanning electron microscopy, SEM)
控制電子在欲觀察物體的表面,這些電子會激發(fā)出其他的電子,而這些釋放出來的電子可以被偵測器所偵測,
形成一種三維影像(3D/three-dimensional images)


穿隧式電子顯微鏡(transmission electron microscopy, TEM)
一束電子束藉由磁鐵(magnets)投射在欲觀察物體上,如果影像顯出顏色較深的地方為吸收電子的地方;
反之,顏色較淺的地方為電子直接穿透較多的地方










出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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