標(biāo)題：粉體顆粒結(jié)構(gòu)及晶粒尺寸量測專業(yè)檢測金相顯微鏡廠商
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-1-10 23:51:42
將本頁加入收藏
下一篇：專業(yè)研究用金相顯微鏡應(yīng)用簡介,觀察材料微觀組織
上一篇：非接觸式二三次元影像量測儀-專業(yè)工具金相顯微鏡廠商
點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報價--丨--
---
---
---
正文:
晶粒尺寸量測專業(yè)檢測金相顯微鏡廠商
服務(wù)項目：
塊材、薄膜、粉體等微觀組織、結(jié)構(gòu)影像觀察及成份分析。
陰極發(fā)光材料影像分析、光譜量測。
多晶材料結(jié)晶取向、織構(gòu)及晶粒尺寸量測。
特別注意事項：
樣品或試片準(zhǔn)備需知：
固態(tài)材料，須乾燥，真空中不具揮發(fā)性，電子束照射不會分解或揮發(fā)。
試片大�。褐睆建Q 2.5 cm，厚度≦1 cm。
掃描電容顯微術(shù)的建立
在電性掃描探針顯微鏡的領(lǐng)域中，以掃描電容顯微鏡的技術(shù)難度最高，
然因掃描電容顯微鏡具備二維載子濃度分析的優(yōu)異能力，載子濃度分布對雙極性場效電晶體 (BJT) 及MOSFET等
元件的運(yùn)作效能及電性均具有決定性的影響，若能精確得知載子濃度的二維分布輪廓，
對元件的設(shè)計與特性分析將有莫大助益。由于掃描電容顯微鏡在功能上符合電子產(chǎn)業(yè)的立即性需求且應(yīng)用層面廣泛，
故早期在電性掃描探針顯微鏡技術(shù)的發(fā)展
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/3838.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商