標(biāo)題：表面組織顆粒測(cè)量分析金相顯微鏡-光學(xué)儀器廠
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-1-23 1:02:15
將本頁加入收藏
下一篇：礦物硬度的指標(biāo)為何，上光儀器硬度計(jì)產(chǎn)品列表
上一篇：粗糙度測(cè)量用語簡介-粗糙度測(cè)量工具顯微鏡廠家
點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價(jià)--丨--
---
---
---
正文:
➢ 形狀（Form）：
又稱形狀誤差，由機(jī)器及工件受力變形，及滑道直度不佳等誤差所引起。
➢ 波紋（Waviness）：
由于加工所產(chǎn)生的低頻震動(dòng)、機(jī)器振顫、機(jī)器及工件橈曲等，所引起的低頻波形。
表面組織之定義
➢ 粗糙度（Roughness）：加工的高頻因素所引起的高頻不規(guī)則表面。
➢ 瑕疵： 氣孔、缺陷、裂痕等。
➢ 全部輪廓（total profile）即由以上幾種因素所組成
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/3877.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商