標(biāo)題：使用何光源可以達(dá)到8nm的縱向解析率-光學(xué)顯微鏡常識
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-3-1 23:47:02
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正文:
使用何光源可以達(dá)到8nm的縱向解析率-光學(xué)顯微鏡常識
不需要掃描機制的非干涉式光學(xué)表面測繪術(shù)。利用通訊系統(tǒng)中常用的平方律偵測術(shù)，
能夠在一般光學(xué)顯微鏡的影像上，以單一空間頻率調(diào)變，
消去焦平面以外的光強度而得到光切片顯微影像。再以差動共焦顯微術(shù)的概念，
將這樣得到的光切片顯微影像之縱向解析率提高到納米級。由于不需掃描和光學(xué)干涉機制，
系統(tǒng)架構(gòu)單純，成像速度高。目前在 8 位元數(shù)位化影像中，
使用波長 550 nm 的可見光源，已經(jīng)達(dá)到 8 nm 的縱向解析率
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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