標題：TEM觀察的試片的研磨步驟-材料學金相顯微鏡
信息分類:站內新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-4-8 15:14:19
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正文:
TEM觀察的試片的研磨步驟-材料學金相顯微鏡
傳統(tǒng)離子研磨法：
將欲觀察的試片切成適當大小，約5 × 10mm 大小，并另外切相同大小的墊片數片，以作為保護與平衡之用。
首先將欲觀察試片用G1 膠先對貼，再將墊片對稱貼于兩側， 。膠膜盡量變薄，再置于加熱板上加熱，使其固定。之后將固定之試片于較大的墊片上，此即完成黏貼試片第一面
將墊片背面黏于手指上，將試片組在研磨盤上，利用砂紙由粗至細研磨，目
的在將對貼的試片界面磨細，并拋光 ， 使表面平滑，此即完成第一面之研磨。
將試片取下，將光滑面用熱熔膠貼于乾淨玻璃上，熱熔膠的黏貼，亦需經過加熱加壓過程。
利用相同的研磨方法，由粗至細研磨，此即為第二面之研磨，應磨到透光，約呈現琥珀色透光度并加以拋光，如圖(d)。此時試片厚度約為3~10μm 。
利用外徑3mm 、內徑2mm 的銅環(huán)，利用環(huán)氧樹脂黏貼于試片上
待其銅環(huán)上之環(huán)氧樹脂乾后，將試片泡于乾淨的丙酮中，使熱熔膠熔掉，約三十分鐘到一小時，試片會與玻璃分開。
取出試片后，利用離子束研磨機修薄試片。此離子剪薄機離子束與試片的角度可由4~10 度，離子束的能量約為3~6keV ，
修到試片介面處有破裂為止，此時試片才有薄區(qū)
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科