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標題:電子顯微鏡來統(tǒng)計金屬材料的粒徑非常方便

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時間:2013-5-21 20:44:50 將本頁加入收藏

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正文:

電子顯微鏡來統(tǒng)計金屬材料的粒徑非常方便


使用原子力或是電子顯微鏡來統(tǒng)計材料之粒徑,為一個十分直接的方法。然而取樣數(shù)目則需十分大
量方能接近實際的材料狀況。同時由于觀測到的顆粒大小,十分容易受到備制顯微鏡樣品的方法的影
響。因此最好能配合 x 光繞射施瑞爾 - 威爾森的分
析方法,以得到較為接近的數(shù)據(jù)。

對于納米超導金屬的一些物理量的量測,首先可以針對針對一系列已分析確認為純相,并具有粒徑
分佈較窄的不同平均粒徑的納米鉛,進行電阻、比熱的量測










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