標(biāo)題：光學(xué)顯微鏡測(cè)量工具在在三維表面量測(cè)上的應(yīng)用
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-5-27 1:46:43
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正文:
光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)在在三維表面量測(cè)上的應(yīng)用
應(yīng)用光學(xué)系統(tǒng)于物體的三維表面有著快速及非接觸等優(yōu)點(diǎn)，但數(shù)碼影像只呈現(xiàn)二維平面的資料，
所以應(yīng)用在三維表面量測(cè)上，必須利用空間成像幾何關(guān)系或影像光強(qiáng)度的計(jì)算方式，
來(lái)求得二維影像相對(duì)應(yīng)的 z 軸深度，目前所發(fā)展出來(lái)的三維表面光學(xué)非接觸量測(cè)系統(tǒng)，
有雷射共焦顯微鏡、三角量測(cè)法、結(jié)構(gòu)光投影法和對(duì)焦尋形（Shape from
Focus）等，這些方式是將光束投影至待測(cè)物表面，
再利用光感測(cè)器或 CCD 攝影機(jī)量測(cè)待測(cè)物表面反射光的強(qiáng)度或相位變化等，推測(cè)出
物體表面形貌和這些變化量的關(guān)系，進(jìn)而重建出待測(cè)物之三維表面。
上述的方法中以雷射共焦顯微鏡的精確度最高，但其應(yīng)用上因?yàn)槔咨?/div>
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
與針孔（pinhole）（例如：Nipkow disk）等設(shè)備昂貴而受到限制，且
因?yàn)橐萌氡容^多的硬體設(shè)備所以系統(tǒng)體積較大，
也因其為單點(diǎn)光源作 xy 方向的掃瞄，所以量測(cè)的速度較慢。
一套可重建待測(cè)物三維表面的量測(cè)系統(tǒng)，其優(yōu)點(diǎn)為系統(tǒng)硬體架構(gòu)價(jià)格便宜，
因其架構(gòu)為一般的光學(xué)顯微鏡，體積也較小，
且其光源為全域照明，所以其量測(cè)速度較快，但其精確度不及雷射共焦顯微鏡
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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