標(biāo)題：專(zhuān)業(yè)礦相顯微鏡應(yīng)用于鑒定礦物及觀察微觀結(jié)構(gòu)

信息分類(lèi):站內(nèi)新聞　　 作者:yiyi發(fā)布　　 時(shí)間:2013-5-31 16:38:26 將本頁(yè)加入收藏

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正文:

專(zhuān)業(yè)礦相顯微鏡應(yīng)用于鑒定礦物及觀察微觀結(jié)構(gòu)

定量分析：黏土礦物之定量分析

以晶面間距為~1.7 nm (~5°2θ)、~1.0 nm (~8.9°)和~0.7 nm (~12.5°)等繞射峰（乙二醇處理后）

之積分強(qiáng)度分別予以經(jīng)驗(yàn)法則之權(quán)重用于計(jì)算膨潤(rùn)石、伊萊石和綠泥石之百分比，計(jì)算方式如下述：

         膨潤(rùn)石之權(quán)重強(qiáng)度 I1.7 nm × 1

         伊萊石之權(quán)重強(qiáng)度 I1.0 nm × 4

         綠泥石之權(quán)重強(qiáng)度 I0.7 nm × 2

         總權(quán)重強(qiáng)度 Itotal = I1.7 nm × 1 + I1.0 nm × 4 + I0.7 nm × 2

         膨潤(rùn)石之百分比 Xsmectite = 100 × ( I1.7 nm／Itotal ) 

         伊萊石之百分比 Xillite = 100 × [( I1.0 nm × 4 )／Itotal]

         綠泥石＋高嶺石之百分比 Xchlorite + kaolinite = 100 × [( I0.7 nm × 2 )／Itotal]

         綠泥石之百分比 由在d = 0.36 nm附近之高嶺石繞射峰（24.8°-24.9°2θ）和綠泥石繞射峰（25.15°-25.2°2θ）

之強(qiáng)度比值Ichlorite／Ikaolinite = I25.15°-25.2°／I24.8°-24.9° 可計(jì)算得綠泥石之百分比Xchlorite = Xchlorite + kaolinite × I25.15°-25.2°／I24.8°-24.9°但因本研究中并未偵測(cè)到24.8°-24.9°2θ之高嶺石002繞射峰，

因此不采計(jì)高嶺石之含量。

         (8) 結(jié)晶度值量測(cè)：伊萊石結(jié)晶度值以量測(cè)伊萊石~8.9°2繞射峰半高寬行之，

綠泥石結(jié)晶度值則量測(cè)綠泥石~12.5°2繞射峰半高寬，均是以鎂飽和乙二醇處理順向試片之繞射圖為量測(cè)對(duì)象。

電子顯微分析

         為輔助鑑定礦物及觀察組織，選擇各活塞巖心之最深標(biāo)本制作拋光薄片，進(jìn)行掃瞄式電子顯微鏡（SEM）分析，

G23測(cè)站則分析了最深的3個(gè)標(biāo)本，總計(jì)分析了G1-P1、G2-P2、G3-P1、G4-P1、G5A-P1、G6-P1、G10-P1、G15-P1、

G17-P1、G19-P1、G21-P1、G22-P1、G23-P1、G24-P1、N4-P1、N6-P1、N9-P1及N13-P1等18個(gè)測(cè)站20個(gè)標(biāo)本，

分析標(biāo)本之資料列于表二。所使用的儀器為成功大學(xué)地球科學(xué)系之JEOL JSM 804A掃瞄式電子顯微鏡，

操作條件為20 kV加速電壓和0.4 nA探針電流，配備Ｘ光能量散射光譜儀，可進(jìn)行主要元素之定量或定性分析。

出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科

特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/4320.html 　
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