標(biāo)題：CCD成像裝置光源的選擇-顯微檢測顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-7-9 0:52:49
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正文:
CCD成像裝置光源的選擇-顯微檢測顯微鏡
光源選擇
鋼珠拍攝時在光源選擇相當(dāng)重要，因鋼珠的表面反光會導(dǎo)致拍攝的檢測影像不完整，
如果待測物的取像不完整便無法繼續(xù)進(jìn)行瑕疵檢測，
搭配不同顏色的環(huán)型光源來進(jìn)行拍攝，
期望能夠找出一種光源顏色使反光降到最低，并能拍攝到完整的鋼珠影像。
凹陷瑕疵:
拍攝鋼珠之環(huán)境設(shè)置
利用彩色攝影機(jī)CCD拍攝鋼珠之瑕疵影像，以分析瑕疵區(qū)域資訊，其大小為256 X 256像素。
要建構(gòu)一個符合需求的自動化檢測系統(tǒng)，首要的工作便是建立一個有效的光源環(huán)境，
因?yàn)橛跋竦呐臄z與周圍光源的配置有極大的關(guān)系。一個良好的光源配置會將物件的陰影降至最小，
而物件的反光程度也會降至最低。目前所提出的光源配置方法各有其用途整理如下：
1.檢測表面缺陷程度：背光法、直射光法、垂直光法、雙直射光法。
2.檢測邊緣的垂直度：濾波光法。
3.檢測球狀體的厚度：散射光法。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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