標題：高解析度的設(shè)計專業(yè)研究金相顯微鏡-輔助工具
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-7-23 14:04:38
將本頁加入收藏
下一篇：分光光度計、熒光光度計可分析葉綠素的含量
上一篇：晶片觀察不同倍率可選-專業(yè)檢測顯微鏡
點擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報價--丨--
---
---
---
正文:
高解析度的設(shè)計專業(yè)研究金相顯微鏡
雖然掃描探針顯微鏡能夠具要原子級解析能力的關(guān)鍵之一，是在于應(yīng)用壓電陶瓷材料為作定位平臺的驅(qū)動器，
使得在定位方面可以有較高的解析度，但是高解析度與長行程卻是相反的設(shè)計考量，
所以掃描探針顯微鏡只應(yīng)用壓電平臺而無其他的輔助工具，在試樣的準備上就必須要先將欲掃描區(qū)域
切割成符合壓電平臺X、Y 軸行程的范圍，而這個范圍為50 μm 到200 μm 的正方格，是頭發(fā)的0.5 倍
至2 倍，在試樣條件上，這是一個嚴苛的條件，在實際的工業(yè)應(yīng)上，
也將是一個非常嚴重的致命傷，所以加入長行程定位平臺是要其相當?shù)谋匾?nbsp;
長行程定位平臺的基本功能，就是要有定位(Positioning)的效果，也就是要能夠?qū)⒃嚇踊蛱结槪?nbsp;
與參考目標的相對位置之距離差保持一定，但是在實際的應(yīng)用上，定位的誤差是會受到很多的環(huán)境因素，
或是本身設(shè)計因素考量的影響，所以針對應(yīng)用于掃描探針顯微鏡而言，定位平臺系統(tǒng)的解析度與定位平臺的工作行
程，是設(shè)計整體長行程定位系統(tǒng)重要的條件，然而隨著定位平臺的行程越大，
由于誤差的累積，定位平臺所能達到的定位精度就會大幅的降低，自然就會影響到系統(tǒng)的解析度;
另外要達到高解析度的設(shè)計考量，更精密的位置感測器、位置閉回路控制與嚴格的環(huán)境要求是必要的
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/4489.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商