標題：高分辨率CCD應用于太陽能芯片檢測-金相顯微鏡門市
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-9-19 0:51:52
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正文:
高分辨率CCD應用于太陽能芯片檢測-金相顯微鏡門市
太陽能芯片電極涂布誤差來源分析
太陽能電池制程中電極涂布由原有的單次涂布改良為兩次涂布，其主
要目的是為了使電極線寬變細但整體截面積必須保持和單次涂布時相同
甚至更多，如此可有效的增加太陽能電池的光電轉(zhuǎn)換效率。但由于電極進
行兩次涂布間某些因素造成兩次電極輪廓發(fā)生錯位，因此可能降低電池本
身的光電轉(zhuǎn)換效率，
芯片邊界與電極涂布區(qū)域?qū)ξ徽`差
單次電極涂布誤差來源
太陽能芯片原有的單次電極涂布制程因為印刷電極寬度較寬，印刷范
圍可較大，所以容許有較大的誤差產(chǎn)生。傳統(tǒng)一次涂布電極邊界相對于晶
片邊界之誤差量較大，但不影響芯片本身的光電轉(zhuǎn)換效率。而涂布時造成
電極位置有偏差的原因有：芯片與電極本身各有對位誤差的情形發(fā)生、對
位 CCD 分辨率所造成的誤差、涂布機臺于數(shù)次網(wǎng)印后累積的誤差、網(wǎng)版
及膠料品質(zhì)所造成的網(wǎng)印誤差等等因素
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/4696.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應商
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