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標題:材料分析圖像三目偏光顯微鏡-微熱加工常識

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時間:2013-9-24 22:41:08 將本頁加入收藏

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正文:

材料分析圖像三目偏光顯微鏡-微熱加工常識

近場光學(xué)顯微鏡對于現(xiàn)今奈米尺度量測 上有高空間解析的能力,是分析
次波長微結(jié)構(gòu) 不可或缺的工具。

因其空間分辨率受限于光纖 探針的尺寸,為近場光學(xué)顯微鏡中關(guān)鍵部份,
延續(xù)先前研究,本計畫已達成探針自制能力, 并且利用自制的探針與外差
式近場光學(xué)干涉儀結(jié)合已具有不錯的成效。再者,對于近場正交式的架構(gòu)已
有初步的模擬結(jié)果。對于輻射狀偏極態(tài)入射光在近場光學(xué)用探針模擬也觀察
到了超小聚焦的現(xiàn)象,有助于提升近場光學(xué)顯微鏡之分辨率

掃描熱顯微術(shù)量測材料熱性質(zhì)和微熱加工之影響。在 量測或加工過程中,由
于懸臂探針加熱會 導(dǎo)致振動現(xiàn)象發(fā)生,此振動大小和探針與 工件間之交互作
用力有關(guān);此外,由熱探 針針尖傳至工件表面之熱通量亦會因振動而改變










出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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