標(biāo)題：巖石切片組成和結(jié)構(gòu)分析專業(yè)光學(xué)顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-11-28 20:39:11
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正文:
巖石切片組成和結(jié)構(gòu)分析專業(yè)光學(xué)顯微鏡
薄片類型
標(biāo)準(zhǔn)薄片:標(biāo)準(zhǔn)薄片由三部分組成:載玻片、巖石薄片和蓋玻片，
它們的厚度分別在0.8一1.9 mm, 0.03 mm和0.2 mm。
一般用途的薄片都有一個蓋玻璃片，但也有一些特殊用途的薄片，
其大小和厚度都與標(biāo)準(zhǔn)薄片有所差別。
大薄片:構(gòu)造現(xiàn)象往往比較復(fù)雜，而且較小的尺度很難將整體面貌反映出來，
因此經(jīng)常需要切制一些超出正常標(biāo)準(zhǔn)大小的薄片。
超薄片:對于細(xì)粒巖石，尤其是微米或納米尺度顆粒的巖石，
普通薄片很難觀察到顆粒單體的一些特點(diǎn)，因而致使顆粒形態(tài)、
邊界等都不能正常顯示。因此常常需要切制厚度低于0. 007 mm的超薄片。
對于雙折射率過高的礦物，如方解石，超薄片使得觀察效果最佳
觀察與分析
應(yīng)用光學(xué)顯微鏡進(jìn)行巖石組成和結(jié)構(gòu)分析，應(yīng)用費(fèi)氏臺開展晶體
優(yōu)選方位的測定，進(jìn)行巖組分析;分別應(yīng)用電子探針、透射電子顯微鏡、
掃描電子顯微鏡和EBSD進(jìn)行微區(qū)成分、結(jié)構(gòu)形貌、組構(gòu)分析與研究工作。
根據(jù)需要，還可以進(jìn)行微區(qū)成分分析、礦物年代學(xué)測試等更進(jìn)一步的
研究工作。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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