標(biāo)題：電子顯微鏡觀察礦石和巖石樣品的微觀特征
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-12-5 22:48:03
將本頁加入收藏
下一篇：巖石成型微觀測定圖像分析微鏡-孔隙率測量
上一篇：透射電鏡觀察研究樣品顯微顆粒結(jié)構(gòu)特征
點擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報價--丨--
---
---
---
正文:
如果用透射電鏡觀察的樣品是薄晶體(晶體厚度<1000 ).
或者樣品本身為薄膜，則所得結(jié)果比復(fù)型法可靠。
至于有些屬于亞顯微尺度的內(nèi)容，
則必須使用高分辨透射電鏡來觀察，對一些亞微晶體.借明暗場對比觀察，
將更為清楚，進(jìn)一步可得到晶格象或原子結(jié)構(gòu)象。此外，
如利用同臺儀器上的轉(zhuǎn)換裝置，還可以在相應(yīng)的選區(qū)范圍內(nèi)作電子衍射研究，
所得到的電子衍射圖.將為高分辨象的解析提供有力的支持。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/4983.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商