標題：上光顯微砂粒顆粒圖像自動測量分析軟件廠商
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-12-16 16:00:24
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正文:
上光顯微砂粒顆粒圖像自動測量分析軟件廠商
有些樣品如泥質(zhì)膠結(jié)的砂巖，不易松解。要測量其中
砂粒的粒度，
可將砂巖直接磨成片狀樣品，
也可在務(wù)使分散的條件下，將顆粒包埋在樹脂類物質(zhì)中
成為塊狀樣品，磨光后對磨光面進行觀察測量。
此時應(yīng)注意所謂截面效應(yīng)的問題。透射顯微鏡測的是顆粒
的投影像，
而反射顯微鏡測量的是塊樣的磨光表面(即光反射面)對于顆粒
所截的輪廓像。對于包埋著許多球形顆粒的樣品，
磨光表面所截的圓的直徑會普遍小于球粒直徑。
透過顯微系統(tǒng)將圖像放大，在經(jīng)過上海光學儀器一廠自行研發(fā)的圖形統(tǒng)計軟件
自動進行分析統(tǒng)計，省去很多繁瑣的工作量
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/5022.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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