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標(biāo)題:金屬試樣截面金相測(cè)量分析圖像顯微鏡廠商

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時(shí)間:2014-4-9 15:08:17 將本頁加入收藏

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正文:

金屬試樣截面金相測(cè)量分析圖像顯微鏡廠商

    目前,在金屬零部件的斷裂分析中,廣泛采用各種顯微分析儀器,
使古老的斷口分析形成了所謂斷口金相學(xué)這樣一門新穎的獨(dú)立學(xué)科,
在破損分析中發(fā)揮了重要的作用。所謂斷口金相學(xué),就是斷口表面特
征和斷裂機(jī)理的金相研究,即用電子顯微鏡對(duì)斷口特征進(jìn)行表面形貌
學(xué)研究,判斷斷裂的屬性,并找出有關(guān)的力學(xué)參量,用各種微探針
(如電子探針)

    對(duì)裂紋源(夾雜物、第二相、脫成分區(qū)等)及斷口表面的沉積物
或腐蝕產(chǎn)物進(jìn)行成分分析,找出引起裂紋的原因,用微區(qū)二光衍射或
電子衍射等對(duì)上述物質(zhì)進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析,以便找出它們形成的原因和環(huán)
境條件,從而獲得有關(guān)零部件的斷裂性質(zhì)、斷裂的機(jī)理和斷裂原因的
實(shí)驗(yàn)證據(jù),為設(shè)計(jì)和工藝人員改進(jìn)設(shè)計(jì)、工藝或更換材料提供科學(xué)依
據(jù)

    斷口金相學(xué)所使用的主要的顯微分析儀器有下列幾種:形貌分析
:光學(xué)(立體)顯微鏡、透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡等。

    微區(qū)成分分析:電子探針、離子探針、激光探針和俄歇譜儀等。

    結(jié)構(gòu)分析:二光衍射儀、顯微x 衍射儀、電子衍射和低能電子衍
射等。

    由于廣泛采用了這些先進(jìn)儀器,促使斷口顯微分析技術(shù)發(fā)展很快,
有許多專著和報(bào)告。

    人們對(duì)斷裂機(jī)理也有了深刻的認(rèn)識(shí),采取了許多卓有成效的防斷
措施,大大延長(zhǎng)了零件的壽命。











出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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