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標題:顯微物鏡的檢驗,由于焦距短一般不用凸面反射鏡

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時間:2014-4-13 20:01:35 將本頁加入收藏

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正文:

顯微物鏡的焦距短,一般不能用凸面反射鏡

    泰曼(Twyraan 1920,1922~1923 )還曾經(jīng)用他發(fā)明的干涉儀成
功地檢驗過顯微物鏡。檢驗顯微物鏡的二涉儀檢驗透鏡的
干涉儀一樣,但是因為顯微物鏡的焦距短,一般不能用凸面反射鏡。
由于有的顯微鏡在有限筒長下工作,所以需要加一個負透鏡來改變準
直光,以模擬一個位于離顯微物鏡16厘米遠處的光源。如果用單色光
或準單色光作光源,必須校正這個負透鏡的球差,但不必校正其色差。

    有四種檢驗顯微物鏡的光路形式,其中最常用的是曲率中心與被
檢物鏡焦點重合的凹球面反射鏡系統(tǒng)。用一個超半球的實心球面反射
鏡可以模擬有蓋玻片的情況。

    也可以采用在被檢物鏡焦點上放一塊平面反射鏡的辦法,但這時
波面被旋轉(zhuǎn)了180 °,因此必須用激光光源,或者把另一支光臂的波
面也旋轉(zhuǎn)一下。要旋轉(zhuǎn)另一支光臂的波面可以用一個三面直角棱鏡,
或者另外再用一個同樣帶有平面反射鏡的顯微物境。

    應(yīng)當(dāng)注意,在后一種情況下干涉圖表示的是兩個顯微物鏡的象差
之差。

    第四種光路形式是由兩個相對放置的顯微物鏡組成的。這時干涉
圖表示的是兩個顯微物鏡的象差之和。但是,當(dāng)被測物鏡象差較大或
針孔較大時,最好的光路形式是戴森系統(tǒng)。
圖1











出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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