標(biāo)題：巖相學(xué)常所使用的偏光顯微鏡-研究光學(xué)顯微鏡
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-4-27 18:14:22
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正文:
偏光顯微鏡是晶體光學(xué)方法的基本研究工具，它最初的出現(xiàn)只是用作巖相學(xué)上鑒定巖
石薄片，但近年來在化學(xué)、陶瓷技術(shù)、金相學(xué)，以及醫(yī)藥等各個(gè)領(lǐng)域，已日益顯示出
偏光顯微鏡的重要用途。
由于應(yīng)用領(lǐng)域的廣泛擴(kuò)大，偏光顯微鏡在構(gòu)造上已經(jīng)歷了許多修改，但基本原理仍與
最早的巖石顯微鏡無大差異，
巖相學(xué)工作者通常所使用的偏光顯微鏡。
偏光顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)是它不僅能完成一般顯微鏡的放大作用，而且可以測定普通顯微鏡
所不能測定的其它光學(xué)性質(zhì)和特征。
偏光顯微鏡區(qū)別于一般顯微鏡的基本點(diǎn)在于它有兩個(gè)偏光鏡，一個(gè)位于載物臺下而，
稱下偏光鏡(Polarizer)，又稱起偏振器，另一個(gè)位千物鏡上方，稱上偏光鏡或分析鏡
(Anialyzer )又稱檢偏振器。此外，偏光顯微鏡的物臺均為圓形，卜有度盤，可以旋轉(zhuǎn)，
并可以計(jì)量轉(zhuǎn)角。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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