標題：高折射率礦物分析用偏光顯微鏡-礦物樣品含量測定
信息分類:站內新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-5-1 11:53:23
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正文:
高折射率礦物分析用偏光顯微鏡-礦物樣品含量測定
使用兩面拋光薄片的優(yōu)越性
(1)兩面拋光薄片最大的優(yōu)點是可以單獨用透射光或反射光，或者同時
用兩種光對巖石中的透明、半透明和不透明礦物的同一組合在顯微鏡下進行
研究。這種薄片可以使低折射率粘結介質中的高折射率礦物的光散射變小。
與單面拋光薄片相比，兩面拋光薄片的視域在清晰度、分辨率、色彩和顆粒
邊界上的差異等方面都有明顯的改善。
(2)兩面拋光薄片能更好地對礦物邊界作三維觀察，從而能作出更好的結構
共生解釋。
(3)兩面拋光薄片主體上是透明薄片，因而對透明礦物中由于不同應變
速率形變引起的內部亞構造，以及包裹體等能進行較好的觀察和研究。
(4)兩面拋光薄片也可用于探針分析(電子探針和離子探針均可)、掃描
電鏡研究以及同位素研究。
(5)如果樣品中只含有百分之幾的不透明礦物，那么用兩面拋光薄片，
在反射光下對礦物百分含量測定結果與在透射光下測定的結果經常出現(xiàn)誤差
。實際上，在反射光下測定的結果比較可靠，所以我們現(xiàn)在已不再建議采用
透射光來作礦物含量分析了。
(6)兩面拋光薄片還能起到一塊光片所能起的相同作用，如可作反射率
側定、顯微硬度測量、差別蝕刻，以及與化學試劑的反應等。
(7)可以進行對同一現(xiàn)象用透射光照片和反射光照片作比較的成對顯微
照相。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科