標(biāo)題：顯微鏡物臺(tái)平面上所成的像-測(cè)量型光學(xué)儀器常識(shí)
信息分類(lèi):站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-5-5 15:42:32
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正文:
照明場(chǎng)和測(cè)量場(chǎng)的控制:照明光闌(視場(chǎng)光闌)在顯微鏡物臺(tái)平面上所成的像稱(chēng)為照明場(chǎng);
測(cè)量光闌在顯微鏡物臺(tái)平面上所成的像為測(cè)量場(chǎng)(光度場(chǎng))。照明光闌和測(cè)量光闌的
面積、位置都是可以調(diào)節(jié)的，因此照明場(chǎng)和測(cè)量場(chǎng)都是可以控制的。照明場(chǎng)用于
提供樣品照明，
而測(cè)量場(chǎng)用于限定被測(cè)樣品區(qū)，就是說(shuō)，只有這個(gè)樣品區(qū)的光線(xiàn)能被光電倍
增管所檢測(cè)。雙波法、雙區(qū)法和掃描法對(duì)照明場(chǎng)和測(cè)里場(chǎng)的大小有不同的要
求，詳見(jiàn)各種方法的測(cè)量步驟;但有一些共同的原則應(yīng)掌握，照明場(chǎng)太大時(shí)
，由于周?chē)饨?jīng)過(guò)反射或散射進(jìn)人測(cè)量區(qū)，將引起較高的透光值;照明場(chǎng)太
小，則照明場(chǎng)形成的衍射條紋將會(huì)影響測(cè)呈值，
一般照明場(chǎng)為測(cè)量場(chǎng)的2倍左右。測(cè)量場(chǎng)的大小根據(jù)不同的測(cè)量方法選擇。
測(cè)量場(chǎng)的位置應(yīng)調(diào)在照明場(chǎng)的中央。光電倍增管光陰極的不同部位靈敏度不
同，所以在測(cè)量過(guò)程中應(yīng)保持照明場(chǎng)、測(cè)量場(chǎng)和樣品之間相對(duì)位置的一致。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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