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標(biāo)題:光學(xué)顯微鏡能觀察次微米大小礦物么-礦物鑒定顯微鏡

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時間:2014-5-10 14:20:20 將本頁加入收藏

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正文:

光學(xué)顯微鏡能觀察次微米大小礦物么-礦物鑒定顯微鏡

    用透射電鏡或掃描透射電鏡來研究礦物時,事前必須有明確的
目的,這是因為:

    ①樣品制作比較復(fù)雜,除需要技巧外,還有其他因素的影響。

    不同的礦物在減薄過程中被離子沖蝕的難易程度不一樣,如果
樣品中含有多種不同礦物,問題就會很嚴(yán)重;

    ②最理想的情況是,希望獲得的情報很特殊,特別適宜用透射
電鏡或掃描透射電鏡來研究,且用其它方法,就不能得到準(zhǔn)確無誤
的結(jié)果;

    ③必需事先用光學(xué)方法對選定作透射電鏡的區(qū)域進(jìn)行認(rèn)真的研
究。

    除了在第一節(jié)中指出的兩種主要精細(xì)結(jié)構(gòu)類型,需用透射電鏡
或掃描透射電鏡作為主要研究手段外,我們還列出了一些同樣適宜
于用透射電鏡或掃描透射電鏡來研究的對象:

    ①小于10 pm 的包裹體或高壓多形產(chǎn)物的鑒定,這樣小的樣品
是很難從標(biāo)本上取出來作X 射線衍射分析的;

    ②用光學(xué)方法也不能觀察的次微米大小礦物. 的鑒定,如煙煤
所含微鏡煤里次微米大小礦物的鑒定等;

    ③在研究晶體結(jié)構(gòu)時,取得與X 射線衍射資料相對比的電子衍
射數(shù)據(jù)。










出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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