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標(biāo)題:巖石顯微鏡-常用的顯微礦物分析光學(xué)儀器廠商

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時(shí)間:2014-5-13 23:21:14 將本頁加入收藏

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正文:

巖石顯微鏡-常用的顯微礦物分析光學(xué)儀器廠商


巖石顯微鏡仍是一種必不可少的工具。在對(duì)
巖石中礦物集合體作進(jìn)一步X射線衍射、掃描電鏡、電子探針、質(zhì)子探針和
掃描透射電鏡研究時(shí),巖石顯微鏡也是一種基本的檢測(cè)工具。

    掃描電子顯微鏡現(xiàn)已成為每一個(gè)礦物學(xué)和巖石學(xué)實(shí)驗(yàn)室不可缺少的設(shè)備
之一。本技術(shù)的主要缺點(diǎn),在于礦物的顏色和內(nèi)部構(gòu)造(如包裹體),因樣品
被導(dǎo)電復(fù)膜覆蓋而不能觀察出來。掃描電鏡利用儀器的景深和聚焦,在研究
礦物或微化石的形貌、形態(tài)和表面結(jié)構(gòu)方面,還是一種最好的工具。這種儀
器正在改進(jìn),以便獲得更好的定量化學(xué)分析數(shù)據(jù)。不過,最近若干年內(nèi),在
微量元素的檢測(cè)限方面,掃描電鏡畢竟要比電子探針差。

    對(duì)礦物、巖石和礦石成因進(jìn)行的主要實(shí)驗(yàn)研究,包括受控緩沖劑(氧逸
度)條件下、熱液條件下和其它特殊溫度壓力條件范圍下的礦物相平衡研究

每一輪實(shí)驗(yàn)的產(chǎn)物通常都很小,常常需要用顯微礦物學(xué)技術(shù)來對(duì)晶質(zhì)相進(jìn)行
鑒定,對(duì)淬火后的液相或玻璃作成分分析。










出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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