標(biāo)題：觀察動(dòng)力學(xué)過程是光學(xué)顯微鏡優(yōu)于電子顯微鏡
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-5-26 17:34:57
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正文:
觀察動(dòng)力學(xué)過程是光學(xué)顯微鏡優(yōu)于電子顯微鏡
制備薄樣比磨光樣
更令人感到乏味，但隨著當(dāng)今自動(dòng)設(shè)備的使用，制備薄樣變得很
容易。此外，薄樣也不需要像磨光樣那樣精拋光(細(xì)到亞微細(xì)粒
度)。與反射光不同，采用透射光試樣污染不影響對(duì)于微觀結(jié)構(gòu)
的解釋。試樣厚度大約為30μm左右，薄樣的主要缺點(diǎn)是必須不
大于一個(gè)晶體的厚度。隨著現(xiàn)代高級(jí)陶瓷由亞微細(xì)粒度的粉制
成，許多產(chǎn)品本身不需要制成薄樣觀測(cè)，在這些情況下，磨光試
樣必須充分。
可以觀察動(dòng)力學(xué)過程是光學(xué)顯微鏡優(yōu)于電子顯微鏡的一大
特點(diǎn)。定時(shí)錄像顯微鏡能用來記錄隨時(shí)間變化的腐蝕過程。顯
然，室溫過程和在水溶性介質(zhì)中最容易觀察。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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