標(biāo)題：電路板分析用便攜式光學(xué)顯微鏡-使用方便
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-6-5 1:12:01
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正文:
電路板分析用便攜式光學(xué)顯微鏡-使用方便
故障分析電測(cè)試的最佳途徑也是如此。首先進(jìn)行非破壞性的電測(cè)試.收集測(cè)試
結(jié)果數(shù)據(jù)，然后再實(shí)施其有潛在破壞性的測(cè)試.由于DUA可能與正常的器件有所不
同，因此有時(shí)很難準(zhǔn)確判斷哪些電測(cè)試可能具有潛在的破壞性。
以下是器件故障分析電氣特性表征的一般方法.假定關(guān)于DUA的故障類型僅有很
少或者沒(méi)有詳細(xì)資料。如果有一些詳細(xì)的信息可資利用，便應(yīng)對(duì)下述方法做適當(dāng)修改.
故障分析電測(cè)試的最一般的方法是以低電壓和小電流進(jìn)行初始測(cè)試。當(dāng)對(duì)器件
施加低電壓時(shí)，電流將被限定在一個(gè)很小的值上。隨著加上越來(lái)越高的電壓，便開(kāi)始
流過(guò)明顯的電流。功耗應(yīng)當(dāng)受到限制并監(jiān)視電壓/電流特性的穩(wěn)定性。
帶有單獨(dú)的電板表和電流表的獨(dú)立電源通常難以滿足上述所有要求。然而，如果
采用曲線描繪儀，便可輕易地滿足所有這些要求。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/5698.html
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