標(biāo)題：AFM電子顯微鏡樣品檢測中淀粉團(tuán)粒樣品制備
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-7-12 19:34:32
將本頁加入收藏
下一篇：顯微鏡技術(shù)用于淀粉研究的多樣性和適用性
上一篇：淀粉微粒的生物學(xué)-電子顯微鏡成像和光鏡的不同
點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報價--丨--
---
---
---
正文:
AFM電子顯微鏡樣品檢測中淀粉團(tuán)粒樣品制備
用于原子力顯微鏡成像的淀粉團(tuán)粒樣品制備
為獲得重現(xiàn)性高、品質(zhì)高、有愈義的結(jié)果，原子力顯微鏡成像的樣品制備非常關(guān)鍵
雖然已有關(guān)于制備平面載體上分離的多糖鏈的常規(guī)方法的報道,淀粉團(tuán)粒(粒子直徑約
0.1~ 200μm)的原子力顯微鏡(AFM)成像還存在一些與樣品尺寸及形貌直接有關(guān)的問
題。特別是有關(guān)曲面或點(diǎn)面成像，或何時采用特殊方法制備物料以展現(xiàn)淀粉團(tuán)粒內(nèi)
表面的問題。
理論上，由于微懸臂跨過微米尺度的樣品掃描的需要，原子力顯微鏡應(yīng)該在平面上操
作;面且微懸臂的垂直運(yùn)動的限制，樣品高度差異大(超過數(shù)徽米)會阻礙針尖掃描;或者
由于針尖進(jìn)人成像范圍，會產(chǎn)生針尖的“自我成像”.非固定的粒子可能會造成
如探針引起團(tuán)粒移動或者當(dāng)探針接觸樣品時發(fā)生“彎曲的”的問題
由于這些原因，幾乎所有發(fā)表的有關(guān)全淀粉團(tuán)粒的原子力顯微鏡的研究都包括了團(tuán)粒的包埋，
一方面是為了固定團(tuán)粒，另一方面是為了減少樣品表面總體高度的差異。據(jù)報道，使用玻璃
均質(zhì)機(jī)做物理破壞的方法比用消化或切割的方法更適合觀察淀粉團(tuán)粒裸露的內(nèi)表面，但是新
趨勢是以接觸模式來研究被樹脂包裹的團(tuán)粒薄片
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/5839.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商