標(biāo)題：微小長(zhǎng)度及微小位移測(cè)量稱為比較測(cè)量-測(cè)量顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-8-24 23:02:01
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正文:
在微小尺寸和微小位移的測(cè)量中，又有兩種情況:①測(cè)盈
的絕對(duì)值是表面各段微小尺寸差;②用比較法測(cè)量被測(cè)件與
標(biāo)準(zhǔn)件之差。不論是測(cè)量微小尺寸的絕對(duì)值，還是比較測(cè)量微
小長(zhǎng)度差，量?jī)x檢測(cè)微小長(zhǎng)度的機(jī)能都是相同的。通常把這
種測(cè)量?jī)x稱為比較測(cè)量?jī)x。
在大尺寸和大位移測(cè)量中，是用標(biāo)準(zhǔn)尺等直接測(cè)量被測(cè)
件，即由標(biāo)準(zhǔn)尺等指示出測(cè)量值。通常把這種測(cè)盤儀稱為指
示測(cè)量?jī)x。
因此，把微小長(zhǎng)度及微小位移的測(cè)量統(tǒng)稱為比較測(cè)量，把
大尺寸、大位移的側(cè)量統(tǒng)稱為指示測(cè)量，又稱絕對(duì)測(cè)量。
光學(xué)主動(dòng)測(cè)量即光電轉(zhuǎn)換法。主要是通過(guò)光電轉(zhuǎn)換把測(cè)
得的光量轉(zhuǎn)換成電量。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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