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標(biāo)題:微小長(zhǎng)度及微小位移的測(cè)量稱為比較測(cè)量-比較顯微鏡

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時(shí)間:2014-8-26 18:21:50 將本頁加入收藏

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正文:

微小長(zhǎng)度及微小位移的測(cè)量稱為比較測(cè)量-比較顯微鏡

    在大尺寸和大位移測(cè)量中,是用標(biāo)準(zhǔn)尺等直接測(cè)盤被測(cè)
件,即由標(biāo)準(zhǔn)尺等指示出測(cè)量值。通常把這種測(cè)盤儀稱為指

    因此,把微小長(zhǎng)度及微小位移的測(cè)量統(tǒng)稱為比較測(cè)量,把
大尺寸、大位移的測(cè)量統(tǒng)稱為指示測(cè)量,又稱絕對(duì)測(cè)量。
    光學(xué)主動(dòng)測(cè)量即光電轉(zhuǎn)換法。主要是通過光電轉(zhuǎn)換把測(cè)
得的光量轉(zhuǎn)換成電量。

    這種測(cè)量方法,包括光學(xué)杠桿式(很早就用于精密測(cè)量)
及透鏡放大式,這兩種方法都屬于被動(dòng)測(cè)量法。

    此外可以把很小的光電元件,按直線形狀排列,取代刻度尺,
或者做成下節(jié)敘述的電碼標(biāo)尺取代刻度尺,這樣就能把長(zhǎng)度最轉(zhuǎn)
換成脈沖盤或數(shù)字盤。











出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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