標題：細胞顆粒測量顯微鏡二維圖像上的測量包括面積與曲線長
信息分類:站內新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-9-13 10:13:07
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正文:
三維結構的參數是以二維圖像上的測量及計數的數據為基礎
的。二維圖像上的測量包括面積與曲線長，二維圖像上的計數，
主要是顆粒截面的計數。
在二維圖像上數顆粒的數目，要求先確定測試面積，在此面
積之內計數。
首先在底片或照片上劃定測試面積，通常為長方形。由于順
粒截面有可能壓在邊線上，在計數時必須遵循一定的原則�？梢�
有兩種辦法。一是取顆粒的長軸與短軸的交點為中心點，如果中
心在邊線內測，則計入，在外測，則不計入，中心點壓在邊線
上，則計士，壓在四角的頂點，則計+。另一種辦法是，顆粒截
面壓在上邊線及左邊線，均計入，壓在下邊線及右邊線，則不計
入。更嚴格些，右邊線向上的延線及左邊線向下的延線
以及下、右兩邊線，統稱為禁線(forbidden line)，
壓在禁線上的顆粒截面，均不計入。禁線的這種規(guī)定，是為了避
免同一顆粒截面在相鄰的幾個測試面積中重復計數。
在電鏡照片上數一種題粒的截面，特別要注意識別通過顆粒
邊緣附近切出的小截面，這種截面不僅面積較小，而且邊緣不
清，反差較小，容易漏計。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科