標(biāo)題：澆鑄截面金屬樣品鑄造實(shí)驗(yàn)-晶體粒度測(cè)量顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-11-19 23:59:39
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正文:
當(dāng)樹枝狀晶體粒度減小時(shí)，越過晶體截面的平均濃度梯度(固
溶體晶粒邊界和內(nèi)部平衡濃度差)將增加，并且按照菲克定律，擴(kuò)
散將進(jìn)行得較快。樹枝狀晶體粒度對(duì)均勻化速率也有間接影響，因
為過剩相微粒的粒度將隨著樹枝狀晶體粒度的減小而減小。
有兩種控制顯微組織的方法能加速均勻化。第一種方法是提
高合金的結(jié)晶速度。結(jié)品速度愈高，樹枝狀晶體的粒度就愈小。因
此，在它們邊界上結(jié)晶的過剩相微粒將愈細(xì).根據(jù)這個(gè)理由，高
速冷卻凝固的鑄錠和鑄件，均勻化較快、較徹底，因?yàn)樗鼈兙哂?/div>
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
較細(xì)的組織.例如，連續(xù)澆鑄的小斷面金屬錠比大斷面金屬錠均
勻化快一些.壓鑄比砂型鑄造均勻化快些。
加速均勻化的第二種方法，是用塑性加工來細(xì)化金屬錠的組
織.例如，延長合金鋼錠均勻化退火時(shí)間，可以用在最后變形階
段之前，增加變形鋼件的加熱時(shí)間來代替。鋁合金錠的退火，有
時(shí)用壓制管材或沖壓坯的均勻化來代替.這種方法能顯著地加速
均勻化退火，雖然需要將金屬錠的壓制速度減慢一些.
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