標題：粗糙度算術平均值用輪廓儀測量-測量顯微鏡
信息分類:站內新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-11-26 23:44:07
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正文:
粗糙度的測量
目前的表面測量技術水平還不可能將一個物體的實際表面準確表征出
來，并確定它的真正質量。
測量粗糙度的儀器分為按接觸原理工作的和按光學干涉原理工作的兩
類。接觸式儀器所提供的是一種一維的表面圖形，而光學干涉顯微鏡所
顯示的則是一種二維的表面圖形。采用機電接觸式輪廓儀，則不但可提
供表面的輪廓圖。而且不可以直接示出各種粗糙度尺寸。
當用一種粗糙度尺寸，例如R。，表明一個工件的粗糙度時，需要在
工件不同位置上進行一系列測量，以便從這些R.值中求出一個平均值來
。測點的數(shù)目取決于這些分別測量數(shù)據(jù)的離散程度。
由于至今還沒有一種測量粗糙度的儀器能準確地按標準的E-制或M-制
工作（結構上有困難），所以在比較由各種機電式輪廓儀測出的粗糙度
時，必須注意下列兩點：
1.這些儀器必須有相同的基準制，或者同樣的探測器結構；
2.測量必須在輪廓的同一段長度上進行，而且都不用或者都用相同的
波紋濾除器。
由此可以得出下列表示表面粗糙度值的合適的數(shù)據(jù)，
如：粗糙度算術平均值用輪廓儀測量；
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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