標(biāo)題：常用照明光源金相試樣檢驗的光學(xué)設(shè)計有哪些特點
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-12-17 15:52:12
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正文:
明場照明金相試樣檢驗的光學(xué)設(shè)計有哪些特點
檢測方法
明場照明金相試樣檢驗的最主要方法是通過入射光
的明場照明的垂直照明裝置的光程。
大部分顯微照片都是用明場垂直照明拍下來的。
斜照明 斜照明是通過把聚光裝置或反射鏡磨得光
心與幾何中心不一致來得到的，斜照明投射陰影是由
于凹凸或高度差的結(jié)果，這種高度差提供三維的外貌
。由于把聚光鏡磨得光心與幾何中心不一致而減小了
透鏡的NA（因此也降低了分辨能力），所以可能使用
的傾斜度是有限的。
暗場照明暗場照明由于各種效應(yīng)產(chǎn)生高襯度的圖象
，對明場照明來說，這些效應(yīng)通常沒有什么作用。
暗場照明對于觀察組織的顏色，改善無色組織的襯度
和觀察非常小的粒子（超顯微技術(shù)）方面很有用處。
這種方式下，物體表現(xiàn)為自發(fā)光，這是提高分辨率的
一種條件。由于照明度低，所以必須使用強光源，
盡管做到這一點，曝光時間還可能相當(dāng)長。暗場入射
光顯微技術(shù)著重表現(xiàn)表面的不規(guī)則，例如晶界、裂縫
和凹坑。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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