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標題:礦石標本結構構造截面分析圖像顯微鏡-粗糙度測量

信息分類:站內新聞   作者:yiyi發(fā)布   時間:2015-1-25 4:02:18 將本頁加入收藏

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正文:

礦石標本結構構造截面分析圖像顯微鏡-粗糙度測量

    礦石光片是礦相顯微鏡研究的主要對象。光片磨制的質量好
壞,直接影響到礦相學研究的可靠度。光片的制備過程須經準備礦
石、切片、棋磨、(細磨、磨光、安裝等幾道工序)o
    首先選擇有代表性的礦石磨制光片,光塊或光薄片。

光塊是對具有特殊意義或有代表性的礦石結構構造(如顯示劃分
礦化階段的標志,

有典型的礦石構造的)的部分磨制成大光面,.其大小根據(jù)實際情況
選定。光塊可提供作較大范圍光面進行觀察研究之用。光薄片是
偏,反步兩用的,不加蓋玻璃,可以鑒定透明礦物的成分以及與
不透明礦物之間的關系,

    其次是將標本進行鋸切,并進行粗磨及細磨,然后將細磨的
光片進行拋光,最后將光片進行按裝,即可放到顯微鏡下去觀察。











出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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