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正文:
包裹體的巖石礦物測(cè)定
顯微鏡制片整個(gè)工藝流程
研究礦物的包裹體,目前國(guó)內(nèi)主要是測(cè)定礦物的成
礦溫度,為此,必須首先要把含有包裹體的巖石礦物磨制成
兩面磨光的透明薄片,以供在顯微鏡下進(jìn)行觀察研究。
根據(jù)均勻勻化法(均一法、均化法)測(cè)溫對(duì)礦物包裹體兩面
磨光透明薄片的要求,礦物包裹體測(cè)溫薄片要符合下列規(guī)格:
1)薄片要有代表性,要能盡量包括該標(biāo)本所反映的成礦各
期次的礦物。
2)制成的薄片,含包裹體礦物的透明度要好(因?yàn)榘w
很小,如礦物不透明或透明度差,就很難找到包裹體),同時(shí)均
勻勻化法測(cè)溫,它只適用于透明礦物,所以,薄片要求兩面拋光。
3)切片時(shí)要注意一定的晶向,以便研究各種包裹體的特
征。對(duì)結(jié)品好的礦物,各晶軸方向都要切一片,且要求片子不能
破碎。
4)制片整個(gè)工藝流程中,要求溫度控制在80℃以下,以保
證一些低溫的氣液包裹體不致爆破。
5)兩面磨光薄片的厚度一般為0.1-0.7毫米,主要視礦
物的透明度而定。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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