標題：鎢的晶粒粗大晶界與晶面的截面金相分析顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-2-9 17:21:41
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正文:
在接點面上發(fā)生放電時，通常在接點面上生成不附著的
粉末狀氧化物和咐著的膜狀氧化物。而放電往往發(fā)生在晶界，
粉狀氧化物是由電壓在晶界放電產(chǎn)生的，附著在接點面
上的膜狀氧化物則是由電流在晶面放電產(chǎn)生的。這點很容易
邁過以下實驗結果得知。
因為鎢的晶粒粗大，晶界與晶面的性質(zhì)差別明顯，故對
確認上述現(xiàn)象是有利的。對鎢來說，如果在晶界發(fā)生放電，
就會以該處為中心沿著晶界產(chǎn)生一些小裂紋。然后放電很容易
沿著這些裂紋發(fā)生。對于這一現(xiàn)象通過普通光學顯微鏡很容易
觀察到。
另外，其他材料例如銀也可用以下實驗得到確認。
這是因為燒結金屬與鑄造金屬的本質(zhì)差別在于前者的多
孔性質(zhì)，而其他金屬性質(zhì)卻完全沒有本質(zhì)上的差別.用熔化
法制造時品界物質(zhì)的大部分是由固體構成的，一而在燒結金屬
的晶界物質(zhì)中含氣體多.
另外，鑄造金屬的固體晶界物質(zhì)通常是由具有很大結合
力的化合物組成，但這些化合物與晶粒之間的結合力一般比
較弱，而這種薄弱性在外觀上主要表現(xiàn)為晶粒脆弱，但這種
晶粒脆弱性采用燒結法可以去除.
因此熔化法的接點在放電時，晶界物質(zhì)與晶粒之間結合
薄弱部分比晶界物質(zhì)的破壞大，晶界物質(zhì)破壞所生成的扮末
狀氧化物少。并且在低電壓電路中，由于感應在接點間產(chǎn)生
的高電壓比通過接點問的電流對損耗的影響大
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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