標(biāo)題：精密測(cè)量組構(gòu)巖石樣品計(jì)量圖像視頻顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-3-16 12:42:40
將本頁加入收藏
下一篇：巖石的體物理組構(gòu)巖體晶體的構(gòu)造晶粒測(cè)量顯微鏡
上一篇：金屬型鑄造的工藝特點(diǎn)-金相制樣晶粒測(cè)量顯微鏡
點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價(jià)--丨--
---
---
---
正文:
亞組構(gòu)可以具有和全組構(gòu)同樣的對(duì)稱，或具有較高的對(duì)稱；
不能具有全組構(gòu)低的對(duì)稱 ，這種情況在某些方面類似于結(jié)晶
學(xué)情況，在后種情況中，一個(gè)既定單形具有與其晶體相同的對(duì)
稱或較高的對(duì)稱，這取決于它相當(dāng)于一般形還是特殊形。
一般形和特殊形分別是。所有亞組構(gòu)的對(duì)稱全一致的組構(gòu)，桑
德稱之為“均變組構(gòu)”；而那些亞組構(gòu)對(duì)稱不一致的組構(gòu)被稱
為“異變組構(gòu)”。
經(jīng)驗(yàn)表明，在一種既定組構(gòu)可能具有的許多組構(gòu)中，選擇少
數(shù)幾個(gè)就足以確定其全組構(gòu)的對(duì)稱，既然如此，如果把兩種不
相似的主礦物（如石英和云母或方解石和云母）之軸對(duì)稱結(jié)晶
學(xué)要素的優(yōu)選方位與葉理和線理之類非結(jié)晶學(xué)要素的優(yōu)選方位
一起加以考慮，那么，這樣確定的全對(duì)稱在其它亞組構(gòu)也被考
慮時(shí)，一般保持不變。因此，精心選擇被測(cè)量的要素，可以使
構(gòu)造分析大大得到簡(jiǎn)化。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/6722.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商