點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價(jià)--丨--

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正文:
高質(zhì)表面結(jié)構(gòu)
測(cè)量領(lǐng)域儀器-表面
粗糙度即表面特征
規(guī)定什么表征參數(shù)對(duì)于現(xiàn)有的高質(zhì)量
測(cè)量?jī)x器的使用價(jià)值,
在表面結(jié)構(gòu)測(cè)量領(lǐng)域中基本要求之一是測(cè)試被測(cè)形貌更復(fù)雜的和
綜合的特征的運(yùn)用能力,在經(jīng)過(guò)五到十年工作以后,已經(jīng)在許多
工業(yè)中證明應(yīng)用統(tǒng)計(jì)參數(shù)和函數(shù)表征表面形貌特性是有效的,峰
點(diǎn)計(jì)數(shù)和平均波長(zhǎng)測(cè)量已在
金屬板工粘中通用,在許多工業(yè)和大
學(xué)的實(shí)驗(yàn)室里正在進(jìn)行探索采用自相關(guān)函數(shù)和幅度密度函數(shù)表征
傳統(tǒng)的和非傳統(tǒng)的材料切除過(guò)程。
這種測(cè)量?jī)x同過(guò)去的表面粗糙度測(cè)量?jī)x相比,不同點(diǎn)在于測(cè)
量力非常小、測(cè)量速度非常慢,可能是這二個(gè)條件對(duì)被測(cè)量面產(chǎn)
生了完全不同的變形,所以提高了測(cè)量效果,也可能是光能夠檢
測(cè)超微細(xì)表面粗糙度時(shí),提供出了有關(guān)物體表面的電子特性或物
理特性的新信息。
而且即使已知表面輪廓狀,在提供表面粗糙度(即表面特征)
的有效描述過(guò)程,長(zhǎng)期以來(lái)存在困難,現(xiàn)有計(jì)算機(jī)、專用的微處
理機(jī),已經(jīng)革新民表面的表征方法,也許這一最近的發(fā)展將刺激
我們?cè)陔婂冃袠I(yè)中重新考慮表面粗糙度測(cè)量。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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