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標(biāo)題:偏光顯微鏡鑒定土壤礦物微量分析可用于土壤

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時(shí)間:2015-4-7 19:45:13 將本頁加入收藏

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正文:

偏光顯微鏡鑒定土壤礦物微量分析可用于土壤

土壤發(fā)生學(xué)研究者寧愿用大型的土壤薄片,叫“巨大薄片”(薄片
,15X8厘米)。這種大土壤薄片的制備不宜用人工操作,運(yùn)用圓形
轉(zhuǎn)動磨片機(jī),貼上載玻片和磨片時(shí)都要維持一定壓力,完成的薄片
厚度達(dá)20-25微米。

土壤超薄片的制作,是先制成直徑大約3毫米的薄片,隨后用離子射
線處理,使之減薄直到薄片厚度僅幾百埃。

2、應(yīng)用集成透射顯微技術(shù)的可能性和局限性
理論上這一系列技術(shù)允許連續(xù)觀察到放大800000倍(X800,000),
然而,實(shí)際上達(dá)不到這樣高的位數(shù),常用的光學(xué)偏光顯微鏡的放大
倍數(shù)多10到100,很少到300,極少達(dá)500,這種局限性是因?yàn)檎M?/div>
壤薄片厚僅20-25微米,土中物體直徑<20微米時(shí)就難鑒定;并且在
大多數(shù)情況時(shí),如果直徑<5微米即不可能鑒定。由于制土壤超薄切
片的困難,透射電鏡的利用受到很大限制,透射電鏡主要用于觀察
土壤懸濁液,借多次重復(fù)以鑒定礦物類型。

微量分析
用一系列儀器可進(jìn)行元素的微量分析、微探針可在樣品表面求得元
素的分布,或一個(gè)點(diǎn)一個(gè)點(diǎn)地進(jìn)行分析,樣本的表面有幾個(gè)平方微
烽,其精密度可達(dá)%數(shù);但是只能用于原子量>11的元素。
激光光譜儀連帶偏光顯微鏡不能用于掃描。但是,樣本的分析表面
僅稍大于微探針分析的表面,然而精密度較大。
微量化學(xué)分析可用于土壤薄片,這是借加入特殊試劑,靠用目力比
色鑒定的方法,這種技術(shù)的潛在作用還待探索。
根據(jù)光學(xué)性質(zhì)和結(jié)晶學(xué)特征,運(yùn)用普通偏光顯微鏡可進(jìn)行礦物微量
分析;但是,只有在礦物的大小超過土壤粘粒礦物過小,如用偏光
顯微鏡是很少能鑒定的。
然而,有其它技術(shù)可用以鑒定土壤礦物。例如,應(yīng)用相差顯微鏡(
或干涉查)觀察;透射電鏡觀察小樣本的懸液等,這些廣場可鑒定
粘粒礦物的主要類型,但是認(rèn)識它們在土壤中的轉(zhuǎn)變還有困難。
用X-射線衍射法進(jìn)行微量分析還不可能很清楚,











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