標(biāo)題：電光器件細(xì)晶粒尺寸-雜質(zhì)含量計(jì)量金相顯微鏡
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-5-20 2:03:05
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正文:
電光器件細(xì)晶粒尺寸-雜質(zhì)含量計(jì)量金相顯微鏡
去除氣孔是使力學(xué)可靠性和介電可靠性最大改善多種
電功能的關(guān)鍵目標(biāo)。
這對(duì)于電子基片、電光器件、離子導(dǎo)體、多層電容器
以及壓電系統(tǒng)等都是特別重要的，細(xì)晶粒尺寸也是對(duì)控制
介電性能起重要作用的，因?yàn)樗芸刂苹叽�，控制畸�?/div>
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
的移位，引起的特性上形成磁滯回線，因而引起功率損耗。
在特殊的離子及電子電導(dǎo)的情況下，性能的優(yōu)選及可
靠性的改進(jìn)可能是復(fù)雜的，特別當(dāng)器件是在高溫下工作時(shí)，
要考慮的因素是所要求的雜質(zhì)含量，它的存在以給出合適
的電導(dǎo)而不致偏析到晶界上去，而在晶界處它們會(huì)干擾電
導(dǎo)過程，增大晶粒尺寸會(huì)使包含在電導(dǎo)過程中的晶界數(shù)目
降低，因而降低了晶界對(duì)總電阻的貢獻(xiàn)，但是這會(huì)導(dǎo)致力
學(xué)性能變?nèi)�，所以確定晶粒尺寸時(shí)必須綜合考慮，此外，
一些晶粒的擇優(yōu)定向會(huì)提高電導(dǎo)率，其作法讓電導(dǎo)平面與
晶界方向垂直，在高溫超導(dǎo)體中，如此的定向措施可視為
達(dá)到高的臨界電流的理想方法。
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