標(biāo)題：表面輪廓透射電子顯微技術(shù)的應(yīng)用-光切顯微鏡
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-6-28 23:46:48
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正文:
表面輪廓透射電子顯微技術(shù)的應(yīng)用-光切顯微鏡
電子顯微鏡法
在透射電子顯微技術(shù)上一般需要制備透明的表面復(fù)型。
除了復(fù)型技術(shù)往往是一件麻煩的事之外，還很難肯定復(fù)型是
否代表了原來(lái)的輪廓或者從復(fù)型所得的電子顯微像的解釋是
否對(duì)口徑。若采用反射電子顯微鏡時(shí)這些困難就不會(huì)發(fā)生。
其一般原理是把電子流沿觀測(cè)角入射到被觀察的表面上和按
通常辦法調(diào)整散射的電子。所得的電子顯微像所反映的
表面輪廓有如行人看到迎面開(kāi)來(lái)的汽車車燈所照亮的馬路的
不平整表面一樣。表面不平整性形成了長(zhǎng)的陰影但是隨視角
變小而縮短。然而計(jì)算出所揭示的表面的特征的真正高度并
不困難。這種技術(shù)的最大優(yōu)點(diǎn)是不需要制備復(fù)型：表面本身
直接在電子流下被觀測(cè)(若表面是非金屬時(shí)必須噴涂上一
層銀的薄膜以避免充電效應(yīng))。
單從電導(dǎo)率的測(cè)定來(lái)對(duì)平面的真實(shí)接觸面積作出準(zhǔn)確的
估算是困難的。電導(dǎo)值必須同時(shí)決定于金屬橋的大小和數(shù)
目。因?yàn)槊總�(gè)金屬橋的散布電阻與它的直徑成反比，而接觸
面積與其直徑的平方成正比，因此，對(duì)于在一固定電阻值
下，接觸面積就與金屬橋的數(shù)目成反比。雖然在平面相接觸
的情況下，顯然支承表面的接觸點(diǎn)不可能小于三，但對(duì)金屬
橋的數(shù)日還是無(wú)法肯定的。如果假定金屬橋的數(shù)目實(shí)際上就
是三個(gè)，那末我們就可從接觸電阻來(lái)估算接觸面積。計(jì)算的
結(jié)果表明，在表面的宏觀面積上只有很小的一部分是緊密接
觸的
接觸區(qū)域可用光干涉法測(cè)出，并可量出開(kāi)始滑動(dòng)時(shí)的粘
附力和切線力。這方法提供了也許是研究分子般平滑的表面
間的相互作用的唯一方法。可以在云母上覆蓋單分子層并可
研究它們之間的相互作用。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/7133.html
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