標題：測量很長的零件或要求儀器結(jié)構(gòu)-工具顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-7-7 16:09:08
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正文:
阿貝原則
阿貝原則是絕對測長的根本問題．
在各種絕對測長器中都需要一標準量，如精密線紋、精
密螺紋、精密齒條等。為了提高測量精度，對于被測量和標
準量之間的相互位置以如何配置為宜，阿貝原則認為：若把’
標準量與被測量放在同一測量中心線上，能得到更為準確的
測量結(jié)果。這是因為，量具滑座在導向面上滑動時不可避兔
地會有微小傾斜，若配置方式符合阿貝原則，此項傾斜所引
起的測量誤差為二次誤差，可以忽略不計；而若配置方式不
符合阿貝原則，則所引起的測量誤差為一次誤差，一般不能：
忽略不計。
測量誤差可以忽略不計．在長度的精密測量中，為減小測量
誤差，阿貝原則是必須滿足的條件。
大部分量具量儀的設(shè)計是滿足阿貝原則的，如千分尺、
千分表、深度游標尺、立式和萬能測長儀、各種比較儀等．
不過，當測量很長的零件或要求儀器結(jié)構(gòu)緊湊的情況下，其
設(shè)計也往往不遵守阿貝原則，如游標卡尺，游標高度尺，各
種工具顯微鏡等。對于不符合阿貝原則的情況，在測量時應(yīng)
盡可能使被測量和標準量靠近
以減小阿貝誤差。另外，在制作精密的直線刻度板(例
如編碼裝置等)時，也必須滿足阿貝原則，要把所印刻直線
刻度的軸線和激光干涉儀的反射干涉光路裝置在一直線上．
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/7168.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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