標(biāo)題：高精度測量顯微鏡-檢驗傳感器測量頭的實際尺寸
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-7-11 15:07:10
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正文:
一般儀器測量精度不高的參數(shù),測量效率很高
檢定坐標(biāo)測量機常常用標(biāo)準(zhǔn)線紋米尺或激光干涉儀對每個坐
標(biāo)軸(X，Y、Z)位置進行校準(zhǔn)。有時也使用量塊。常將樣板
任意放置在工作臺上，以便確定三個坐標(biāo)讀數(shù)裝置的綜合誤差。
在某些測量機的技術(shù)條件中，規(guī)定要單獨檢驗坐標(biāo)軸方向位移的
垂直性，因為只檢驗單個坐標(biāo)位移，不能確定垂直性對測量誤差
的影響。在第二類高精度測量機中，通常還備有經(jīng)過校準(zhǔn)盼圓球’
用來檢驗傳感器測量頭的實際尺寸。其檢驗方法介紹如下。用測
量頭的不周點與球面相接觸來測量圓球的尺寸。將得到的測頭尺
寸的數(shù)據(jù)送入電予計算機。當(dāng)使用這個測量頭時，在零件參數(shù)的
測量結(jié)果中就考慮到了測量頭的尺甘。例如在測孔時，這個尺寸
構(gòu)成被測展寸的一部分。
在工藝過程中采用坐標(biāo)測
可以保證有高的效率，首先是對表面和軸的位置這些通常不
測量(相信機床精度)或測量精度不高的參數(shù)，測量效率很高。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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