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正文:
大概場發(fā)射顯微鏡和場離子顯微鏡要算是最精密的表面分析方
法之一了,它們的基本原理是,對表面施加一個足夠強(qiáng)的電場,
使電子能夠燧穿表面的功函數(shù)壁,因為燧穿幾率取決于電子通過
的表面的狀態(tài),所以燧穿電子數(shù)在表面細(xì)節(jié)發(fā)生變化時也隨之逐
點變化,這樣就能以接近于單個表面原子尺度的分辨率得到關(guān)于
空間變化情況的許多信息,除了能夠提供被測表面“圖象”的空
間變化外,
測量燧穿電子的絕對數(shù)目,也可以提供表面上詳細(xì)電
位分布的定量信息。
在場發(fā)射顯微鏡中,外加電場使電子通過燧道效應(yīng)空出表面,
測量電子數(shù)目和把電子加速,使它打到一個
熒光屏上,就可以得
到功函數(shù)在表面變化的圖象,而在場離子顯微鏡中,這個電場被
顛倒過來,使氣體原子中的電子通過燧道效應(yīng)進(jìn)入表面,從而形
成正離子,然后將這種正離子加速到熒光屏上,也能得到表面電
位變化的圖象,使用這些方法的主要問題是,需要一個每厘米幾
百萬伏的電場,才能產(chǎn)生可探測的結(jié)果,試圖用普通的平面來做
這類實驗顯然是不切實際的,為了得到這樣強(qiáng)的電場,必須使用
極細(xì)小的尖端,也就是說,樣品要做成一個錐形,其尖端的曲率
半徑接近幾百埃,因此,這種方法就受到一定限制,即研究的材
料必須能加工成這種形狀,而且要能承受所要求的電場。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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