標(biāo)題：顯微鏡雙折射比的測(cè)定可用于確定粘土定向度值
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-8-22 13:19:41
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正文:
顯微鏡雙折射比的測(cè)定可用于確定粘土定向度值
如果顆粒的定向是不完善的，又如果一組平行粘土片的c軸方
向不是垂直于光的方向，那么最小亮度將大于或最大光亮度將小
于完善的定向，最小光亮度lmin和最寺光亮度lmax之比被稱作雙
折射比。
雙折射比的測(cè)定可用于確定粘土定向度值，盡管用光測(cè)法研究
單礦物質(zhì)的單個(gè)顆粒定向有困難的。
圖形儀的原理研制成的一種自動(dòng)測(cè)量和繪制定向資料的技術(shù)和
儀器。
x-射線衍射法為研究土組構(gòu)所提供的定量分析方法，其優(yōu)點(diǎn)是
光學(xué)和電子顯微技術(shù)所不能比擬的，另一方面，x-射線具有一些
缺點(diǎn)：
1、對(duì)于包含有一種以上礦物的物質(zhì)用x-射線法的結(jié)果進(jìn)行解
積是困難的
2、x-射線幅射的強(qiáng)度取決于樣品的特征、x-射線發(fā)射管的電
壓和電流、狹縫的開(kāi)展度和衍射角，一些較小的不連續(xù)的組構(gòu)將
發(fā)現(xiàn)不了，這是因?yàn)橄嗤瑇-射線峰高可以由不同的微組構(gòu)產(chǎn)生的
。
3、x-射線結(jié)果最有利于靠近試樣表面的組構(gòu)。
所以，x-射線衍射最適用于單一粘土礦物的組構(gòu)分析，它和其
它方法在一起能夠提供關(guān)于微組構(gòu)特征的細(xì)節(jié)，單一粘土礦物顆
粒定向區(qū)必須超過(guò)x-射線束的直徑，這一點(diǎn)很重要。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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