標(biāo)題：顯微鏡的物鏡分析晶體光學(xué)圖象相比照的實(shí)驗(yàn)
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2016-3-22 20:47:22
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正文:
顯微鏡的物鏡分析晶體光學(xué)圖象相比照的實(shí)驗(yàn)
電子探針分析
在真空中一個固體靶被一個電子束所轟擊時，就會發(fā)射出X
輻射線。這種X射線包括一個連續(xù)的本底以及代表靶組成元素的
譜線，而譜線的強(qiáng)度又與發(fā)射這些譜線的元素的含量有著相互
關(guān)系。然后，分析各種不同譜線，也就是利用分光計(jì)將各種譜
線分開，進(jìn)行分析。
將一個可變的自動傾斜三極型電子槍所產(chǎn)生的電子束，用
兩個電磁透鏡聚焦到所研究的斷面上。調(diào)整電子強(qiáng)度，就可以
減少電子槍發(fā)射時可能發(fā)生的波動造成的影響。試樣有一個用
金剛石拋光的斷面，用真空蒸鍍的鎳膜使其表面具有導(dǎo)電性。
用一架顯微鏡觀察靶上面電子的轟擊點(diǎn)，該顯微鏡的物鏡必須
允許電子束和光束能同軸聚焦。配置于柱體兩側(cè)的小室，容納
有彎曲晶體光譜儀以及與它們相聯(lián)接的氣流正比計(jì)數(shù)器。這些
光譜儀能測定出化學(xué)元素周期表中除前四種以外的各種元素的
輻射譜線。
把分析晶體與探測器移到聚焦圓與轟擊點(diǎn)相交的位置上．
就可以對靶進(jìn)行定性分析。將光譜儀央緊在某一合適位置上，
再將進(jìn)行研究的試樣所發(fā)射的輻射線強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)樣品的輻射線
強(qiáng)度作比較，就可以完成定量分析。
同樣可能利用示波器描繪出某一元素的分布圖象：電子束
掃描試樣的一個微小區(qū)域，該電于束則與示波器上的亮點(diǎn)互相
同步，而后者的亮度則由計(jì)數(shù)器信號調(diào)制。與試樣所吸收的電
子數(shù)成正比例的信號，如果調(diào)制蓿示波器電子束的強(qiáng)度，就可
以形成電予㈥象，也就是一種可與光學(xué)圖象相比照的實(shí)驗(yàn)資料
。但是在這種電子圖象中，可以從兩相平均原子數(shù)的波動來說
明兩相之間的差異。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/8189.html
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